宜特：矽光子技術非單一檢測設備專利所能壟斷

宜特認為矽光子技術非單一檢測設備專利能壟斷。（資料照）

〔記者洪友芳／新竹報導〕檢測分析廠汎銓（6830）昨向智慧財產及商業法院提起民事訴訟，主張光焱科技（7728）侵害該公司所擁有中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並依法請求停止相關侵權行為及求償新台幣2億元。光焱科技是汎銓競爭同業廠商宜特（3289）的技術合作夥伴，汎銓昨也揚言將進一步提告宜特，宜特今發出嚴正聲明，認為矽光子技術非單一檢測設備專利能壟斷。

宜特表示，公司一向高度尊重智慧財產權，截至目前為止，公司並未收到任何相關訴訟函件。對於同業在未經司法程序前，即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈，假以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為，宜特深感遺憾，並對此類不正當的競爭手段予以嚴正譴責。

宜特說，作為台灣「AI 新十大建設」與矽光子國家隊的重要一員，公司早在去年即受邀參與由國科會主辦的「臺灣矽光子 CPO-AI 生態鏈座談會」，並於聯合攤位向親自蒞臨指導的總統展現公司在AI運算架構下的關鍵驗證實力。

宜特認為，公司在生態鏈中扮演「電子產業醫學中心」的角色，憑藉與合作夥伴建構起「懂電也懂光」的一站式驗證能力，涵蓋電性測試、光學診斷及可靠度驗證體系，協助產業找病灶、抓根因，是確保矽光子技術從研發走向量產最關鍵的一哩路。

宜特表示，國家級的肯定，充分證明公司技術的正當性與不可或缺性。同業針對「單一檢測設備」的專利爭執，完全不影響公司提供給客戶的整體服務價值，更無法取代公司在驗證領域的專業判斷與分析實力。

宜特指出，公司與合作夥伴的矽光子解決方案，旨在解決業界「光損定位」與「定量數據」難以取得的痛點。由於矽光子產業目前缺乏統一標準，公司投入大量資源和客戶共同建立「可量產、可複製、可被信任」的驗證方法，絕非僅靠「單一檢測設備」即可達成。該解決方案不只整合了宜特30多年深厚的電性測試經驗與光學診斷know-how，更結合廠內數百台的專業量測與可靠度驗證設備，能提供精準數據，確保矽光子導入量產的穩定性。

此外，宜特說明，合作夥伴早已累積多年光量測方法的多項核心發明專利，且矽光子技術是AI時代的關鍵命脈，產業應共同致力於提升良率與技術標準。公司認為，單一廠商不應透過「單一檢測設備」擴張解釋專利範圍，意圖干預整體矽光子與CPO市場發展，此舉將不利於台灣半導體供應鏈的國際競爭力。

宜特強調，目前公司營運一切正常，所有矽光子相關驗證專案均穩定執行，財務與業務運作健全。針對任何損及公司商譽、意圖影響投資大眾信心的言論，公司將採取後續法律作為，這段期間不實報導造成股東權益受損，不排除提告求償，嚴正維護全體股東與客戶的權利。

檢測分析廠汎銓（6830）昨向智慧財產及商業法院提起民事訴訟，主張光焱科技（7728）侵害該公司所擁有中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並依法請求停止相關侵權行為及求償新台幣2億元。汎銓今表示，此案已進入司法程序，相關事實與法律爭點，將依法由法院審理並作出最終判斷。

汎銓強調，公司長期深耕於半導體先進製程材料分析、AI晶片分析平台及矽光子檢測技術領域，相關核心技術係投入大量研發資源所累積的成果。「光損偵測裝置」為公司重要關鍵技術之一，已取得台灣、日本及美國發明專利，並實際應用於矽光子元件光損量測與定位分析，在高速光通訊、AI及光電整合等應用領域具備高度技術價值與產業重要性。

對於光焱科技的相關聲明，汎銓指出，公司基於尊重司法程序原則，不就個別技術爭議或其單方面說法進行逐一回應。關於雙方技術差異、是否構成專利侵權，以及相關專利權利範圍的認定，均屬專業法律與技術判斷範疇，應回歸智慧財產及商業法院依據具體事證進行審理。汎銓呼籲相關當事人以誠實態度面對司法程序。

汎銓表示，這次提告，是基於維護自主研發成果與智慧財產權的正當權益，也是對台灣整體科技產業的價值與重要性，以及全體股東與利害關係人負責的必要行動。汎銓一向重視技術創新與智慧財產保護，並致力於建立健全產業競爭環境，期望透過合法途徑確保技術成果不受不當侵害，以樹立台灣科技產業對於專利與營業秘密，採最高標準捍衛的決心與努力。

汎銓重申，相關爭議已正式進入司法程序，後續將尊重法院審理結果，並依法保障公司及全體股東的合法權益。